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產(chǎn)品型號: SZT-1 -
所屬分類:測試儀
產(chǎn)品時間:2024-07-31
簡要描述:數(shù)字式四探針測試儀|SZT-1|是運(yùn)用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率,測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測試夾,還可以對金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測量。此外,探針經(jīng)過特殊加工后,還可以測量薄膜材料電阻率。
數(shù)字式四探針測試儀|SZT-1|
是運(yùn)用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率,測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測試夾,還可以對金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測量。此外,探針經(jīng)過特殊加工后,還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院?;瘜W(xué)物理系、科研單位,對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 數(shù)字式四探針測試儀|SZT-1| |